| 半導體素子 |
| ＳｉＧｅ ＨＢＴ、ＭＥＭＳ、ＭＯＳＦＥＴ、ＰＮＰ、ＮＰＮ、ＳＯＩ、ＬＤＭＯＳ、超接合デバイス、表面(miàn)チャネルデバイス、ツェナーダイオード、ＬＥＤ、フォトダイオード、ＴＭＢＳ、エミッターベース接合、バラクタ、ＭＩＭキャパシタ、ＰＩＳキャパシタ、ＦＰＧＡチップ、ＬＥＤチップ、フリップチップ、積層チップ、ＬＯＣＯＳ、ＳＴＩ、サリサイド、ゲート形成(chéng)、埋込層、ＣＶＤ、ＣＭＰ、パターニング、プラズマ洗浄、エッチング、エピタキシ、ダミーウエハ、基闆回収、基闆製造、ボンドパッド、ウェハボンディング、汚染物検出 |
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| 光學(xué)・照明・表示 |
| ３Ｄ映像撮影、パノラマステレオ動畫、頭部裝著(zhe)ディスプレイ、ステレオ撮像裝置、拡張現実、バーチャルリアリティ、視覚裝置、走査型光學(xué)顕微鏡法、焦電センサ、光學(xué)素子、空間光変調器、多層膜反射鏡、反射・帯電防止膜、発光素子、ビームホモジナイザ、表示裝置、表示内容調整、蛍光照明システム、照明光學(xué)システム、反射屈折光學(xué)系、ＬＥＤ照明器具、有機電界発光表示裝置、能(néng)動型有機発光表示裝置（ＡＭＯＬＥＤ）、エルコス（ＬＣＯＳ）パネル、薄膜トランジスタ、光學(xué)的特性の復元、マイクロレンズ、対物レンズ、レーザアニール、レーザ冷卻裝置、ＬＥＤレンズ、撮像素子、背面(miàn)照射型センサー、畫素構造、ＧＩＰ回路、光ファイバクランプ |
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| フォトリソグラフィー |
| 露光裝置、幹渉計、磁気浮上平面(miàn)モータ、リニアモーター、平面(miàn)ボイスコイルモータ、ハルバッハ配列構造、気體浮上裝置、フォトマスク、アライメントマーク、デュアル・ウェハステージ・システム、ガントリー裝置、自己減衰シャッター、光近接効果補正、合焦及びレベリング、オーバレイエラー測定、プリアライメント、軸外アライメント、歪み計測、重心校正、重力補償、バランスマスシステム、フォトマスクの撓み矯正、レチクル搬送、ウエハ検査、ウェハ保持構造、ウエハエッジ保護 |
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| データ処理 |
| ＳＤ／ＳＤＩＯホストコントローラー、安全な金融取引システム、セキュリティキー入力システム、測定データ処理、テストスイートの最適化、テストデータ圧縮、ストーリーテリング、漢字入力、スワイプ入力、ソフトウェアパッケージの更新、バリデーションプロトコル、障害報告票の分類と解決、ビデオ品質最適化、アルゴリズム制禦、畫像のベクトル化、畫像データ最適化、溫度データ処理、テキスト入力、メッセージの提供・アセスメント、キャリア分析プラットホーム、中間モジュール、アクティブスタイラス、自動奨勵 |
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| 測定・検証 |
| レーザー畫像検出と測距、マルチフォーカス検査裝置、薄膜計測、変圧器計測、電流センサー、超音波探傷検査、回路遮斷器検査、流量計測、並列テスト、試験器具、人物照合裝置、近接型結合裝置、畫像撮影システム、殘留磁気除去裝置、物理的クローン不可関數、物體位置計測、ＩＣカードリーダー、証明書作成(chéng)システム、文書バッファ、文書スキャン裝置、書類検証、文書読取り裝置 |
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| 化學(xué)・冶金 |
| 化粧品組成(chéng)物、顔料組成(chéng)物、ホットメルト接著(zhe)剤、レアアース回収、メタン生産、水素発生裝置、生分解性ポリマー、エステル合成(chéng)用觸媒、アルミナ磁器、固體酸化物形燃料電池、逆浸透システム、微細発泡射出成(chéng)形、高分子ペレット、研磨剤、ヒドロゲル、シーラント、接著(zhe)剤固化、熱間プレス、鉄-ニッケル合金、帯鋼、シリコンゴムシート、石英ルツボ、蛍石処理、ガス抜き |
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| 情報記憶 |
| 内蔵型フラッシュメモリ、電気的消去可能(néng) プログラマブルＲＯＭ（ＥＥＰＲＯＭ）、記憶裝置、メモリアレイ、プログラミング検証用制禦回路、微分ベクトルストレージ、メモリー管理、組み込み自己テスト回路、メモリテスト回路、チャージポンプ回路、読取操作時間制禦、データ記憶デバイス、昇圧コンデンサ回路、ワード線電圧制禦 |
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| 生物・製薬 |
| ＧＰＲ１１９アゴニスト、バイオセンサー、ｍｉＲＮＡ、ＰＬＰ依存酵素、點鼻剤、肺がん検出方法、高親和性抗體、キナーゼ阻害薬、尿検査試薬、生體高分子検出、濕疹治療薬、脫細胞方法、マイクロ流體分取裝置、宿主細胞シミュレーション、電源モジュール、醫薬製剤 |
